Jste zde

4. výzva

"Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II", "Metrologie pro redefinici jednotek SI II" a "Otevřená výzva"

V roce 2012 proběhla 4. výzva projektu EMRP s tématy "Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II" se zaměřením na průmyslové inovace, "Metrologie pro redefinici jednotek SI II" se zaměřením na praktické aplikace a realizace metrologické návaznosti a "Otevřená výzva", která má umožnit realizaci libovolných metrologických projektů nepokrytých žádnou s dosavadních výzev. Pro oblast průmyslu bylo finálně navrženo XX projektů, z nichž pro EMRP "Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II" bylo schváleno následujících 13 projektů (z toho 9 s účastí ČMI):

  1. Metrologie pro optické a radiofrekvenční komunikační systémy
  2. Multidimensionální reflektometrie pro průmysl
  3. Metrologie velkého objemu v průmyslu
  4. Nová elektronická zařízení založená na detekci deformace v nanoměřítku
  5. Kompaktní mikrovlnné hodiny pro průmyslové aplikace
  6. Postupy chemické metrologie pro výrobu vyspělých biomateriálů v průmyslu se zdravotnickými prostředky
  7. Metrologie pro zpracování materiálů s vysokým obsahem přírodních radionuklidů (MetroNORM)
  8. Metrologie pro polohování v šesti stupních volnosti
  9. Udržitelné elektrické stroje a zařízení s redukovaným obsahem kovů vzácných zemin
  10. Zlepšené zkušební metody EMC v průmyslovém prostředí
  11. Metrologie pro testování erozí při vysokých teplotách
  12. Rozměrové měření přímo v procesu výroby se zajištěnou návazností
  13. Metrologie znečisťujících plynných látek ve výrobním prostředí

Program „Metrologie pro redefinici jednotek SI II“ navazuje na 3. výzvu projektů EMRP zaměřenou na implementaci redefinice jednotek a praktickou realizaci základních jednotek SI a dotčených vedlejších jednotek. Finálně bylo schváleno 14 projektů (z toho 11 s účastí ČMI), což je dvojnásobek schválených projektů v této oblasti, než tomu bylo v rámci 3. výzvy.

  1. Kvantová metrologie odporu založená na grafénu
  2. Metrologie tepelně izolačních materiálů
  3. Automatizovaná metrologie rozšiřující využití kvantových etalonů v oblasti elektrické impedance
  4. Návaznost měření pro stanovení biologicky relevantních molekul a shluků
  5. Mezinárodní časová škála realizovaná optickými hodinami
  6. Realizace, přenos a aplikace jednotky Watt vzduchové neprůzvučnosti
  7. Nové primární standardy a sledovatelnost pro radiometrii
  8. Metrologie úhlu
  9. Metrologie vzorkovaných elektrických měření - návaznost průběhu napětí na kvantové etalony
  10. Metrologie dálkového průzkumu
  11. Krystaly a samouspořádané struktury jako délkové standardy
  12. Metrologie nových elektrických veličin ve vysokofrekvenčních obvodech
  13. Návaznost v oboru síla v meganewtonovém rozsahu
  14. Metrologie vlhkosti v materiálech

Program "Otevřená výzva" je novým programem vyhlášeným poprvé ve 4. výzvě, který má umožnit realizaci libovolných metrologických projektů nepokrytých žádnou s dosavadních výzev. V rámci tohoto projektu byly schváleny celkem 4 navržená témata, kdy ČMI se podílí pouze na jednom projektu.

  1. Fáze kvantové realizace optických hodin a atomových senzorů 
  2. Jedno-fotonové zdroje pro kvantové technologie
  3. Měření a kontrola single-fotonu mikrovlnného záření na čipu
  4. Spintronika a spin-kaloritronika v magnetických nanosystémech 

Celkově je ČR v EMRP "Metrologie pro podporu a rozvoj průmyslu II", "Metrologie pro redefinici jednotek SI II", "Otevřená výzva" zapojena ve 28 projektech, které budou řešeny v průběhu let 2013 - 2017.

Informace EURAMET o čtvrté výzvě