Návaznost sub-nanometrových délkových měření
Traceability of sub-nm length measurements (SIB08 - subnano)
Tohoto projektu se účastní 7 metrologických institutů (PTB, ČMI zastoupené Mgr. Petrem Křenem, pkren@cmi.cz z oddělení kvantové metrologie délky ČMI LPM Praha, MIKES, NPL, UME, VSL, INRIM) a 2 univerzity (TU Delft z Nizozemska a UNITO z Itálie). Projekt volně navazuje na úspěšný projekt „Nanotrace“ a cíli projektu jsou: Charakterizace kapacitních snímačů polohy, charakterizace a modelování nejistot optických interferometrů, ale i například vývoj a vylepšení x-ray interferometru či optických interferometrů. Český metrologický institut se do projektu zapojuje modelováním šíření šumu a nejistoty pro eliptický signál homodynního interferometru. Projekt svými výsledky přispěje k praktickému zlepšení návaznosti sub-nanometrových nejistot délkových měření i pro další obory (např. měření Si koulí).